新闻动态

高低温测试怎么做?产品高低温测试标准
日期:2021-07-26 11:35:00 浏览量:2556 标签: 可靠性测试 新产品开发测试(FT) 高低温试验 高低温测试 光大彩票gd551
光大彩票gd551芯片在出厂前需要进行环境测试,模拟芯片在气候环境下操作及储存的适应性,已确保其在极端环境下也可正常工作。高低温测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。测试设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
高温、低温对电子(塑胶)产品的影响:
光大彩票gd551一、高温可能使产品过热,影响使用安全可靠性,甚至损坏。如:
光大彩票gd5511、使绝缘或密封用灌浆胶熔化流失,润滑脂熔化流失,从而引起损塔
2、使材料性能发生变化
3、弹性元件的弹性或机械性能强度降低,缩短产品使用寿命
光大彩票gd5514、加速高分子材料和绝缘材料劣化和老化过程,缩短产品使用寿命。
光大彩票gd551二、低温对机械、电工、电子产品影响是多方面的,并因产品拄能、程度辅结构的特点而异,如:
1、使电解液冻结t导致电解电容器、电池不能正常使用
光大彩票gd5512、润滑油粘度增加,甚至冷凝冻结,影响产品起动性能
3、影响电子产品正常启动,增大仪表误差
4、使材料变脆,如塑料、钢铁在低温下容易发生脆裂损坏,橡胶材料硬度增大,弹性下降。
高低温测试详细流程
1、在样品断电的状态下,先将温度下降到-50℃,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生+20℃以上温度,所以在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,必须先将其“冻透”,再次通电进行测试。
2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。
3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。
4、升温到+90℃,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后执行2、3、4测试步骤。
光大彩票gd5515、高温和低温测试分别重复10次。
光大彩票gd551如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态,则视为测试失败。
高低温测试试验设备及试验参数
1。高低温循环试验设备
光大彩票gd551高温试验一般是将产品置于恒温箱或恒温室内进行试验。介质的温度用温度计在不同位置测定,取其算术平均值。但要求箱内温度尽可能均匀,通过热空气流动加热产品,不应使试验样品靠近热源。为减少辐射影响,试验箱的壁温不应高于环境温度3%。
低温试验一般在低温箱(室)内进行,其温度一般靠人工制冷的方法获得。在低温箱的有效工作空间内,用强迫空气循环来保持低温条件的均匀性。
2。试验参数
按地区和使用场合不同,GB2423·1一81和GB2423·2—81分别规定了不同温度等级的优先数值。
光大彩票gd551低温环境温度:一65℃,一55"C,一45"C,一40℃,一30℃,一25℃,一15℃,一10℃,一5℃,0℃,+5℃;
光大彩票gd551高温环境温度:+200℃,+17S℃,+155℃,+125℃,+100℃,+8S℃,+70℃,+65℃,+60℃,+55℃,+50℃,+45℃,+40℃,+3S℃,+30℃。
光大彩票gd551温度的允许偏差范围均为±2℃。
在试验样品温度达到稳定后,高、低温条件试验的持续时间根据需要从下列数据中选取:2、16、72、95(h)。
高低温试验后产品应达到的基本要求
光大彩票gd551经高低温试验后的产品质量,一般都是按产品技术条件或技术协定中规定的要求检验。例如,高温环境对电机产品性能的影响,表现在导电材料的电阻变大,导致电流的变化,对有精度要求的电机,还会影响精度。因此,在高温试验后,应在试验箱内测定绝缘电阻,其值不低于5MΩ,同时还要测试电机的其他性能。一般情况下,产品经温度试验后,若能满足下列基本要求,便认为产品符合高低温要求。
光大彩票gd551(1)产品表面无损伤,变形等缺陷。若是涂镀表面,应没有镀层剥落、起泡或变色等现象。
(2)对于塑料零件,其表面无裂纹、起泡和变形等现象。
(3)橡胶制品无老化、粘结、软化和裂开等现象。
(4)产品零件焊接部位无流淌现象。
(5)产品性能数据及结构功能符合技术条件盼要求,不应出现妨碍产品正常工作的任何其他缺陷。

日期:2019-04-01 13:00:00
CNAS-AI01:2019年检验机构认可申请书 「申请资料免费下载」 查看全文>>光大彩票gd551
光大彩票gd551日期:2021-02-05 16:59:00
CNAS-AI01-12:附表7:管理体系核查表(CNAS-CI01-A005:2021)《检验机构能力认可准则在建设工程检验领域的应用说明》 查看全文>>
光大彩票gd551日期:2021-06-04 11:16:00
刚刚过去的五月,全球多地疫情反弹,大宗商品涨价延续,IC产业链毫无意外,缺货涨价仍是主旋律。下面就来梳理一下过去的一个月,业内都有哪些值得关注的热点。 查看全文>>光大彩票gd551
日期:2021-06-18 15:41:07
自五月以来,马来西亚疫情不断升温,每日新增确诊高峰曾突破9000例。严峻形势之下,马来西亚政府于6月1日开始执行为期半个月的全面行动管制。在这之后,每日新增病例呈现下降趋势。 查看全文>>
日期:2021-03-05 10:53:00
据媒体近日报道,内存正在重回涨价模式,从去年12月到今年1月,涨幅最多的品种已达30%。据行情网站数据,各类内存条、内存颗粒在12月上旬起开始涨价,至今仍没有停止的意思。 查看全文>>光大彩票gd551
日期:2021-03-05 10:52:00
据台媒近日报道,MLCC两大原厂三星电机和TDK近期对一线组装厂客户发出通知,强调高容MLCC供货紧张,即将对其调涨报价。在芯片电阻市场,台厂国巨正式宣布从三月起涨价15-25%。紧接着,华新科也对代理商发出涨价通知,新订单将调涨10-15%。 查看全文>>
光大彩票gd551日期:2021-03-05 11:12:00
据海关总署微信平台“海关发布”10日发布的消息,经品牌权利人确认,深圳海关所属福田海关此前在货运出口渠道查获的一批共计391500个印刷电路板,侵犯了UL公司的“RU”商标专用权。 查看全文>>
光大彩票gd551日期:2021-04-26 16:17:00
可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。 查看全文>>
日期:2021-04-26 16:19:00
产品在一定时间或条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率还有平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。而且这是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够,必须使之数量化,这样才能进行精确的描述和比较。 查看全文>>光大彩票gd551
光大彩票gd551日期:2021-04-26 16:29:00
失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下: 查看全文>>
光大彩票gd551日期:2021-04-26 16:41:00
一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。芯片失效分析的常用方法不外乎那几个流程,最重要的还是要借助于各种先进精确的电子仪器。以下内容主要从这两个方面阐述,希望对大家有所帮助。 查看全文>>光大彩票gd551
光大彩票gd551日期:2021-04-26 16:47:42
PCB电路板是电子元件的基础和高速公路,又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。它的发展已有100多年的历史了;它的设计主要是版图设计;采用电路板的主要优点是大大减少布线和装配的差错,提高了自动化水平和生产劳动率。PCB的质量非常关键,要检查PCB的质量,必须进行多项可靠性测试。这篇文章就是对测试的介绍,一起来看看吧。 查看全文>>光大彩票gd551

2021-07-23
2021-12-27
2021-07-29
2021-08-03
2021-07-19
2021-11-11
2021-08-04
2021-09-27
2021-04-21
